Investigation of light-induced defects in hydrogenated amorphous silicon by low temperature annealing and pulsed degradation
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Dissertation |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Philipps-Universität Marburg
2002
|
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | PDF-Volltext |
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Online
PDF-Volltext| Signatur: |
urn:nbn:de:hebis:04-z2002-04083 |
|---|---|
| Publikationsdatum: |
2003-08-06 |
| Datum der Annahme: |
2002-11-04 |
| Downloads: |
94 (2024), 71 (2023), 39 (2022), 38 (2021), 29 (2020), 45 (2019), 31 (2018) |
| Lizenz: |
https://rightsstatements.org/vocab/InC-NC/1.0/ |
| Zugangs-URL: |
https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2002/0408 https://doi.org/10.17192/z2002.0408 |