Investigation of light-induced defects in hydrogenated amorphous silicon by low temperature annealing and pulsed degradation
Guardado en:
Autor principal: | |
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Formato: | Dissertation |
Lenguaje: | inglés |
Publicado: |
Philipps-Universität Marburg
2002
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Materias: | |
Acceso en línea: | Texto Completo PDF |
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Internet
Texto Completo PDFNúmero de Clasificación: |
urn:nbn:de:hebis:04-z2002-04083 |
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Fecha de Publicación: |
2003-08-06 |
Datum der Annahme: |
2002-11-04 |
Downloads: |
42 (2024), 71 (2023), 39 (2022), 38 (2021), 29 (2020), 45 (2019), 31 (2018) |
Lizenz: |
https://rightsstatements.org/vocab/InC-NC/1.0/ |
URL de Acceso: |
https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2002/0408 https://doi.org/10.17192/z2002.0408 |