Investigation of light-induced defects in hydrogenated amorphous silicon by low temperature annealing and pulsed degradation
Tallennettuna:
Päätekijä: | |
---|---|
Aineistotyyppi: | Dissertation |
Kieli: | englanti |
Julkaistu: |
Philipps-Universität Marburg
2002
|
Aiheet: | |
Linkit: | PDF-kokoteksti |
Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
Internet
PDF-kokotekstiHyllypaikka: |
urn:nbn:de:hebis:04-z2002-04083 |
---|---|
Julkaisupäivä: |
2003-08-06 |
Datum der Annahme: |
2002-11-04 |
Downloads: |
42 (2024), 71 (2023), 39 (2022), 38 (2021), 29 (2020), 45 (2019), 31 (2018) |
Lizenz: |
https://rightsstatements.org/vocab/InC-NC/1.0/ |
Linkki aineistoon: |
https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2002/0408 https://doi.org/10.17192/z2002.0408 |