Strukturuntersuchungen amorpher Phasenwechselmaterialien Ge50-xCuxTe50 mittels Streuung und Absorption von Röntgenstrahlung

Die amorphe Struktur der Phasenwechselmaterialien (PCM) GCT-9110 (Ge45Cu5Te50), GCT-7310 (Ge35Cu15Te50) und GCT-112 (Ge25Cu25Te50) auf der pseudo-binären Linie zwischen GeTe und CuTe wurden mittels anomaler Röntgenstreuung (AXS) und Röntgen-Absorptions\-feinstruktur (XAFS) untersucht. Mit Hilfe v...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Paulus, Benedict
Beteiligte:	Pilgrim, Wolf-Christian (apl. Prof. Dr.) (BetreuerIn (Doktorarbeit))
Format:	Dissertation
Sprache:	Deutsch
Veröffentlicht:	Philipps-Universität Marburg 2023
Schlagworte:	anomalous x-ray scattering x-ray scattering Phase Change Materials XAFS Phasenwechselmaterialien Röntgenstreuung anomale Röntgenstreuung amorphous amorph Chemie Chemistry & allied sciences
Online-Zugang:	PDF-Volltext
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