Strukturuntersuchungen amorpher Phasenwechselmaterialien Ge50-xCuxTe50 mittels Streuung und Absorption von Röntgenstrahlung

Die amorphe Struktur der Phasenwechselmaterialien (PCM) GCT-9110 (Ge45Cu5Te50), GCT-7310 (Ge35Cu15Te50) und GCT-112 (Ge25Cu25Te50) auf der pseudo-binären Linie zwischen GeTe und CuTe wurden mittels anomaler Röntgenstreuung (AXS) und Röntgen-Absorptions\-feinstruktur (XAFS) untersucht. Mit Hilfe v...

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Paulus, Benedict
Beteiligte: Pilgrim, Wolf-Christian (apl. Prof. Dr.) (BetreuerIn (Doktorarbeit))
Format: Dissertation
Sprache:Deutsch
Veröffentlicht: Philipps-Universität Marburg 2023
Schlagworte:
Online-Zugang:PDF-Volltext
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