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Strukturuntersuchungen amorpher Phasenwechselmaterialien Ge50-xCuxTe50 mittels Streuung und Absorption von Röntgenstrahlung
Die amorphe Struktur der Phasenwechselmaterialien (PCM) GCT-9110 (Ge45Cu5Te50), GCT-7310 (Ge35Cu15Te50) und GCT-112 (Ge25Cu25Te50) auf der pseudo-binären Linie zwischen GeTe und CuTe wurden mittels anomaler Röntgenstreuung (AXS) und Röntgen-Absorptions\-feinstruktur (XAFS) untersucht. Mit Hilfe v...
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| Autor principal: | |
|---|---|
| Outros Autores: | |
| Formato: | Dissertation |
| Idioma: | alemão |
| Publicado em: |
Philipps-Universität Marburg
2023
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| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | Texto integral em PDF |
| Tags: |
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