Tiefenprofiluntersuchungen an ionenleitenden Gläsern mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)

In dieser Arbeit wird das Verhalten von ionenleitenden, bioaktiven Gläsern und Polymermembranen untersucht. Dabei kommt hauptsächlich die Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS) zum Einsatz. Damit kann eine dreidimensionale Darstellung der Elementverteilung in einer Probe geschaffen we...

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Podrobná bibliografie

Hlavní autor:	Zakel, Julia
Další autoři:	Roling, Bernhard (Prof. Dr.) ; Weitzel, Karl-Michael (Prof. Dr.) (Vedoucí práce)
Médium:	Dissertation
Jazyk:	němčina
Vydáno:	Philipps-Universität Marburg 2014
Témata:	Gläser Chemie ToF-SIMS Leitfähigkeit depth profiling Tiefenprofilierung ion conducting glasses Chemistry & allied sciences
On-line přístup:	Plný text ve formátu PDF
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!