Tiefenprofiluntersuchungen an ionenleitenden Gläsern mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)

In dieser Arbeit wird das Verhalten von ionenleitenden, bioaktiven Gläsern und Polymermembranen untersucht. Dabei kommt hauptsächlich die Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS) zum Einsatz. Damit kann eine dreidimensionale Darstellung der Elementverteilung in einer Probe geschaffen we...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Zakel, Julia
Beteiligte:	Roling, Bernhard (Prof. Dr.) ; Weitzel, Karl-Michael (Prof. Dr.) (BetreuerIn (Doktorarbeit))
Format:	Dissertation
Sprache:	Deutsch
Veröffentlicht:	Philipps-Universität Marburg 2014
Schlagworte:	Gläser Chemie ToF-SIMS Leitfähigkeit depth profiling Tiefenprofilierung ion conducting glasses Chemistry & allied sciences
Online-Zugang:	PDF-Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!