Tiefenprofiluntersuchungen an ionenleitenden Gläsern mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)

In dieser Arbeit wird das Verhalten von ionenleitenden, bioaktiven Gläsern und Polymermembranen untersucht. Dabei kommt hauptsächlich die Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS) zum Einsatz. Damit kann eine dreidimensionale Darstellung der Elementverteilung in einer Probe geschaffen we...

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Príomhchruthaitheoir:	Zakel, Julia
Rannpháirtithe:	Roling, Bernhard (Prof. Dr.) ; Weitzel, Karl-Michael (Prof. Dr.) (Comhairleoir tráchtais)
Formáid:	Dissertation
Teanga:	Gearmáinis
Foilsithe / Cruthaithe:	Philipps-Universität Marburg 2014
Ábhair:	Gläser Chemie ToF-SIMS Leitfähigkeit depth profiling Tiefenprofilierung ion conducting glasses Chemistry & allied sciences
Rochtain ar líne:	An téacs iomlán mar PDF
Clibeanna:	Cuir clib leis Níl clibeanna ann, Bí ar an gcéad duine le clib a chur leis an taifead seo!