TY - BOOK TI - Tiefenprofiluntersuchungen an ionenleitenden Gläsern mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS) AU - Zakel, Julia A2 - Roling, Bernhard (Prof. Dr.) ; Weitzel, Karl-Michael (Prof. Dr.) PB - Philipps-Universität Marburg PY - 2014 LA - German UR - /diss/z2014/0338/pdf/djz.pdf DO - 10.17192/z2014.0338 ER -