0500 Oau
1100 2014
2050 ##0##urn:nbn:de:hebis:04-z2014-03389
2051 ##0##10.17192/z2014.0338
3000 Zakel, Julia
4000 Tiefenprofiluntersuchungen an ionenleitenden Gläsern mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)
4085 ##0##=s MB=u https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2014/0338=x H
5050 |540
5584 depth profiling
5584 Leitfähigkeit
5584 ion conducting glasses
5584 ToF-SIMS
5584 Gläser
5584 Chemie
5584 ToF-SIMS
5584 Tiefenprofilierung
5584 Gläser
5584 Tiefenprofilierung
5584 Leitfähigkeit
opus:5575