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Surface-Assisted Chemistry at Interfaces between Metals and Organic Thin Films

Interfaces between metals and organic thin films are of paramount importance for organic electronic devices. By photoemission spectroscopy (XPS), scanning tunneling microscopy/spectroscopy (STM/STS), temperature programmed desorption/reaction (TPD/TPR) and density functional theory calculations (DFT...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Chen, Min
Beteiligte: Gottfried, J. Michael (Prof. Dr.) (BetreuerIn (Doktorarbeit))
Format: Dissertation
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Philipps-Universität Marburg 2016
Schlagworte:
Metallorganische Grenzschicht
HAXPES
Metallier
Grenzphase
Tiefenprofil
Corrol
Ullmann-reaction
metal-organic interface
Porphyrine
Ullmann-Kupplung
interphase
Phthalocyanin
Rastertunnelmikroskopie
Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
Chemie
depth profile
Thermische Desorptionsspektroskopie
Chemistry & allied sciences
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