Surface-Assisted Chemistry at Interfaces between Metals and Organic Thin Films

Chen, Min

Surface-Assisted Chemistry at Interfaces between Metals and Organic Thin Films

Interfaces between metals and organic thin films are of paramount importance for organic electronic devices. By photoemission spectroscopy (XPS), scanning tunneling microscopy/spectroscopy (STM/STS), temperature programmed desorption/reaction (TPD/TPR) and density functional theory calculations (DFT...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Chen, Min
Beteiligte:	Gottfried, J. Michael (Prof. Dr.) (BetreuerIn (Doktorarbeit))
Format:	Dissertation
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Philipps-Universität Marburg 2016
Schlagworte:	Metallier Corrol Porphyrine Ullmann-Kupplung depth profile metal-organic interface Ullmann-reaction Grenzphase HAXPES interphase Tiefenprofil Phthalocyanin Rastertunnelmikroskopie Röntgen-Photoelektronenspektroskopie Chemie Thermische Desorptionsspektroskopie Metallorganische Grenzschicht Chemistry & allied sciences
Online Zugang:	PDF-Volltext
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Surface-Assisted Chemistry at Interfaces between Metals and Organic Thin Films

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