Surface-Assisted Chemistry at Interfaces between Metals and Organic Thin Films

Surface-Assisted Chemistry at Interfaces between Metals and Organic Thin Films

Interfaces between metals and organic thin films are of paramount importance for organic electronic devices. By photoemission spectroscopy (XPS), scanning tunneling microscopy/spectroscopy (STM/STS), temperature programmed desorption/reaction (TPD/TPR) and density functional theory calculations (DFT...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Chen, Min
Kolejni autorzy: Gottfried, J. Michael (Prof. Dr.) (Promotor doktoranta)
Format: Dissertation
Język:angielski
Wydane: Philipps-Universität Marburg 2016
Hasła przedmiotowe:
Metallier
Corrol
Porphyrine
Ullmann-Kupplung
depth profile
metal-organic interface
Ullmann-reaction
Grenzphase
HAXPES
interphase
Tiefenprofil
Phthalocyanin
Rastertunnelmikroskopie
Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
Chemie
Thermische Desorptionsspektroskopie
Metallorganische Grenzschicht
Chemistry & allied sciences
Dostęp online:PDF pełnotekstowe
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!

Internet

PDF pełnotekstowe

Szczegóły zapisu
Sygnatura: urn:nbn:de:hebis:04-z2016-01067
Data wydania: 2016-04-20
Datum der Annahme: 2016-03-24
Downloads: 33 (2024), 123 (2023), 79 (2022), 53 (2021), 59 (2020), 31 (2019), 24 (2018)
Lizenz: https://rightsstatements.org/vocab/InC-NC/1.0/
URL dostępu: https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2016/0106
https://doi.org/10.17192/z2016.0106

Podobne zapisy