Investigation of light-induced defects in hydrogenated amorphous silicon by low temperature annealing and pulsed degradation

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Detalhes bibliográficos
Autor principal:	Heck, Stephan
Formato:	Dissertation
Idioma:	inglês
Publicado em:	Philipps-Universität Marburg 2002
Assuntos:	Hydrogenated amorphous silicon Physik Physics
Acesso em linha:	Texto Completo em Formato PDF
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Descrição
DOI:	10.17192/z2002.0408

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