Herstellung und elektronische Eigenschaften hydrogenierter amorpher Siliziumfilme, abgeschieden unter extremen Depositionsbedingungen

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Detaylı Bibliyografya
Yazar:	Will, Stephan
Materyal Türü:	Dissertation
Dil:	Almanca
Baskı/Yayın Bilgisi:	Philipps-Universität Marburg 2004
Konular:	Dünne Schicht , PECVD-Verfahren Armorpher Halbleiter , Wasserstoff Physik Silicium Physics
Online Erişim:	PDF Tam Metin
Etiketler:	Etiketle Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!

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