Composition Determination of Semiconductors at Different Scattering Angles with the Help of Energy-Filtered STEM and Four-Dimensional STEM

Composition Determination of Semiconductors at Different Scattering Angles with the Help of Energy-Filtered STEM and Four-Dimensional STEM

In this study, the structural characterization of nanomaterials is performed by an extension of the established method which is used for quantitative STEM based on comparing the ADF-STEM image simulations and experiments. The limitations and capabilities of the method towards single atom accuracy ar...

Ամբողջական նկարագրություն

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Firoozabadi, Seyyed Salehedin
Այլ հեղինակներ: Volz, Kerstin (Prof. Dr.) (Ատենախոսության խորհրդական)
Ձևաչափ: Dissertation
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: Philipps-Universität Marburg 2022
Խորագրեր:
Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie
Image simulation
energiegefilterte STEM
Quantitative STEM
Inelastic scattering
Physik
Vierdimensionale STEM
Inelastische Streuung
Kompositionsbestimmung
Bildsimulation
Energy-filtered STEM
Four-dimensional STEM
Composition determination
Physics
Առցանց հասանելիություն:PDF ամբողջական տեքստ
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
No citations were found for this record.

Նմանատիպ նյութեր