Structural characterization of antimonide-based metamorphic buffer layers on (001) silicon substrate

The aim of the present study was the growth of antimony-based buffer layers with the lattice constant of InP on a GaP/Si pseudosubstrate by metal organic vapor phase epitaxy (MOVPE) and their structural investigation by atomic force microscopy (AFM), X-ray diffraction (XRD), and (scanning) transmiss...

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書誌詳細
第一著者: Ott, Andrea
その他の著者: Volz, Kerstin (Prof. Dr.) (論文の指導者)
フォーマット: Dissertation
言語:英語
出版事項: Philipps-Universität Marburg 2017
主題:
オンライン・アクセス:PDFフルテキスト
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