Surface-Assisted Chemistry at Interfaces between Metals and Organic Thin Films

Surface-Assisted Chemistry at Interfaces between Metals and Organic Thin Films

Interfaces between metals and organic thin films are of paramount importance for organic electronic devices. By photoemission spectroscopy (XPS), scanning tunneling microscopy/spectroscopy (STM/STS), temperature programmed desorption/reaction (TPD/TPR) and density functional theory calculations (DFT...

Volledige beschrijving

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Chen, Min
Andere auteurs: Gottfried, J. Michael (Prof. Dr.) (Thesis begeleider)
Formaat: Dissertation
Taal:Engels
Gepubliceerd in: Philipps-Universität Marburg 2016
Onderwerpen:
Metallier
Corrol
Porphyrine
Ullmann-Kupplung
depth profile
metal-organic interface
Ullmann-reaction
Grenzphase
HAXPES
interphase
Tiefenprofil
Phthalocyanin
Rastertunnelmikroskopie
Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
Chemie
Thermische Desorptionsspektroskopie
Metallorganische Grenzschicht
Chemistry & allied sciences
Online toegang:PDF Full text
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!

Gelijkaardige items