Surface-Assisted Chemistry at Interfaces between Metals and Organic Thin Films

Surface-Assisted Chemistry at Interfaces between Metals and Organic Thin Films

Interfaces between metals and organic thin films are of paramount importance for organic electronic devices. By photoemission spectroscopy (XPS), scanning tunneling microscopy/spectroscopy (STM/STS), temperature programmed desorption/reaction (TPD/TPR) and density functional theory calculations (DFT...

Description complète

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Auteur principal: Chen, Min
Autres auteurs: Gottfried, J. Michael (Prof. Dr.) (Directeur de thèse)
Format: Dissertation
Langue:anglais
Publié: Philipps-Universität Marburg 2016
Sujets:
Metallier
Corrol
Porphyrine
Ullmann-Kupplung
depth profile
metal-organic interface
Ullmann-reaction
Grenzphase
HAXPES
interphase
Tiefenprofil
Phthalocyanin
Rastertunnelmikroskopie
Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
Chemie
Thermische Desorptionsspektroskopie
Metallorganische Grenzschicht
Chemistry & allied sciences
Accès en ligne:Texte intégral en PDF
Tags: Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
No citations were found for this record.

Documents similaires