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Quantitative Untersuchungen der Zusammensetzung von kubischen III/V-Verbindungshalbleitern mittels HAADF-STEM
In der Raster-Transmissionselektronenmikroskopie (STEM) erlaubt insbesondere die Detektion von jenen Elektronen, die aus dem konvergenten Elektronenstrahl durch die Probe in große Winkelbereiche gestreut wurden, eine vergleichsweise intuitive Interpretation der experimentellen Intensität. Dies wird...
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| Автор: | |
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| Інші автори: | |
| Формат: | Dissertation |
| Мова: | німецька |
| Опубліковано: |
Philipps-Universität Marburg
2014
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| Предмети: | |
| Онлайн доступ: | PDF-повний текст |
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