Quantitative Untersuchungen der Zusammensetzung von kubischen III/V-Verbindungshalbleitern mittels HAADF-STEM

Fritz, Rafael

Quantitative Untersuchungen der Zusammensetzung von kubischen III/V-Verbindungshalbleitern mittels HAADF-STEM

In der Raster-Transmissionselektronenmikroskopie (STEM) erlaubt insbesondere die Detektion von jenen Elektronen, die aus dem konvergenten Elektronenstrahl durch die Probe in große Winkelbereiche gestreut wurden, eine vergleichsweise intuitive Interpretation der experimentellen Intensität. Dies wird...

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Detaylı Bibliyografya
Yazar:	Fritz, Rafael
Diğer Yazarlar:	Volz, Kerstin (Prof. Dr.) (Tez danışmanı)
Materyal Türü:	Dissertation
Dil:	Almanca
Baskı/Yayın Bilgisi:	Philipps-Universität Marburg 2014
Konular:	composition III-V Quantifizierung semiconductor Halbleiterphysik Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie Zusammensetzung STEM HAADF Elektronenmikroskopie Verbindungshalbleiter Naturwissenschaften Natural sciences & mathematics
Online Erişim:	PDF Tam Metin
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Quantitative Untersuchungen der Zusammensetzung von kubischen III/V-Verbindungshalbleitern mittels HAADF-STEM

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