Quantitative Untersuchungen der Zusammensetzung von kubischen III/V-Verbindungshalbleitern mittels HAADF-STEM

In der Raster-Transmissionselektronenmikroskopie (STEM) erlaubt insbesondere die Detektion von jenen Elektronen, die aus dem konvergenten Elektronenstrahl durch die Probe in große Winkelbereiche gestreut wurden, eine vergleichsweise intuitive Interpretation der experimentellen Intensität. Dies wird...

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Detalhes bibliográficos
Autor principal: Fritz, Rafael
Outros Autores: Volz, Kerstin (Prof. Dr.) (Orientador)
Formato: Dissertation
Idioma:alemão
Publicado em: Philipps-Universität Marburg 2014
Assuntos:
Acesso em linha:Texto Completo em Formato PDF
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