Quantitative Untersuchungen der Zusammensetzung von kubischen III/V-Verbindungshalbleitern mittels HAADF-STEM

Quantitative Untersuchungen der Zusammensetzung von kubischen III/V-Verbindungshalbleitern mittels HAADF-STEM

In der Raster-Transmissionselektronenmikroskopie (STEM) erlaubt insbesondere die Detektion von jenen Elektronen, die aus dem konvergenten Elektronenstrahl durch die Probe in große Winkelbereiche gestreut wurden, eine vergleichsweise intuitive Interpretation der experimentellen Intensität. Dies wird...

Descripción completa

Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor principal: Fritz, Rafael
Otros Autores: Volz, Kerstin (Prof. Dr.) (Orientador)
Formato: Dissertation
Lenguaje:alemán
Publicado: Philipps-Universität Marburg 2014
Materias:
composition
III-V
Quantifizierung
semiconductor
Halbleiterphysik
Raster-Transmissions-Elektronenmikroskopie
Zusammensetzung
STEM
HAADF
Elektronenmikroskopie
Verbindungshalbleiter
Naturwissenschaften
Natural sciences & mathematics
Acceso en línea:Texto Completo PDF
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
Sea el primero en dejar un comentario!
Primero debe ingresar al sistema

Ejemplares similares