Quantitative Untersuchungen der Zusammensetzung von kubischen III/V-Verbindungshalbleitern mittels HAADF-STEM

In der Raster-Transmissionselektronenmikroskopie (STEM) erlaubt insbesondere die Detektion von jenen Elektronen, die aus dem konvergenten Elektronenstrahl durch die Probe in große Winkelbereiche gestreut wurden, eine vergleichsweise intuitive Interpretation der experimentellen Intensität. Dies wird...

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書誌詳細
第一著者: Fritz, Rafael
その他の著者: Volz, Kerstin (Prof. Dr.) (論文の指導者)
フォーマット: Dissertation
言語:ドイツ語
出版事項: Philipps-Universität Marburg 2014
主題:
オンライン・アクセス:PDFフルテキスト
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