Quantitative Untersuchungen der Zusammensetzung von kubischen III/V-Verbindungshalbleitern mittels HAADF-STEM
In der Raster-Transmissionselektronenmikroskopie (STEM) erlaubt insbesondere die Detektion von jenen Elektronen, die aus dem konvergenten Elektronenstrahl durch die Probe in große Winkelbereiche gestreut wurden, eine vergleichsweise intuitive Interpretation der experimentellen Intensität. Dies wird...
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Autore principale: | |
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Altri autori: | |
Natura: | Dissertation |
Lingua: | tedesco |
Pubblicazione: |
Philipps-Universität Marburg
2014
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Soggetti: | |
Accesso online: | PDF Full Text |
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Accesso online
PDF Full TextCollocazione: |
urn:nbn:de:hebis:04-z2014-03815 |
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Data di pubblicazione: |
2014-09-08 |
Datum der Annahme: |
2014-07-09 |
Downloads: |
73 (2024), 137 (2023), 132 (2022), 146 (2021), 150 (2020), 229 (2019), 170 (2018) |
Lizenz: |
https://rightsstatements.org/vocab/InC-NC/1.0/ |
URL di accesso: |
https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2014/0381 https://doi.org/10.17192/z2014.0381 |