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Tiefenprofiluntersuchungen an ionenleitenden Gläsern mittels Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)
In dieser Arbeit wird das Verhalten von ionenleitenden, bioaktiven Gläsern und Polymermembranen untersucht. Dabei kommt hauptsächlich die Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie (ToF-SIMS) zum Einsatz. Damit kann eine dreidimensionale Darstellung der Elementverteilung in einer Probe geschaffen we...
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| Автор: | |
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| Інші автори: | |
| Формат: | Dissertation |
| Мова: | Німецька |
| Опубліковано: |
Philipps-Universität Marburg
2014
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| Предмети: | |
| Онлайн доступ: | PDF-повний текст |
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