Mikroskopische Analyse optoelektronischer Eigenschaften von Halbleiterverstärkungsmedien für Laseranwendungen
Eine mikroskopische Vielteilchentheorie wird auf verschiedenste Materialsysteme angewendet, die als Verstärkungselement den Grundbaustein von Halbleiterlasersystemen bilden. Das Verständnis der mikroskopischen Prozesse und ihre Modellierung ermöglichen die Analyse und quantitative Prognose optoelekt...
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المؤلف الرئيسي: | |
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مؤلفون آخرون: | |
التنسيق: | Dissertation |
اللغة: | الألمانية |
منشور في: |
Philipps-Universität Marburg
2011
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الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | PDF النص الكامل |
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الانترنت
PDF النص الكاملرقم الاستدعاء: |
urn:nbn:de:hebis:04-z2011-00466 |
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تاريخ النشر: |
2011-01-20 |
Datum der Annahme: |
2010-12-03 |
Downloads: |
64 (2024), 88 (2023), 122 (2022), 69 (2021), 65 (2020), 58 (2019), 64 (2018) |
Lizenz: |
https://rightsstatements.org/vocab/InC-NC/1.0/ |
URL الوصول: |
https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2011/0046 https://doi.org/10.17192/z2011.0046 |