Transmission electron microscopic investigations of heteroepitaxial III/V semiconductor thin layer and quantum well structures

The first part of the thesis presents compositional evaluation of ternary quantum well structures grown on GaAs and GaP substrates using the chemical sensitive 002 dark field imaging in Transmission Electron Microscopy (TEM). The composition retrieved by the dark field intensity measurements and the...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Németh Igor
Другие авторы: Volz, Kerstin (Dr.) (Научный руководитель)
Формат: Dissertation
Язык:английский
Опубликовано: Philipps-Universität Marburg 2008
Предметы:
Online-ссылка:PDF-полный текст
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!