Transmission electron microscopic investigations of heteroepitaxial III/V semiconductor thin layer and quantum well structures

The first part of the thesis presents compositional evaluation of ternary quantum well structures grown on GaAs and GaP substrates using the chemical sensitive 002 dark field imaging in Transmission Electron Microscopy (TEM). The composition retrieved by the dark field intensity measurements and the...

Descripció completa

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autor principal: Németh Igor
Altres autors: Volz, Kerstin (Dr.) (Assessor de tesis)
Format: Dissertation
Idioma:anglès
Publicat: Philipps-Universität Marburg 2008
Matèries:
Accés en línia:PDF a text complet
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!