Transmission electron microscopic investigations of heteroepitaxial III/V semiconductor thin layer and quantum well structures
The first part of the thesis presents compositional evaluation of ternary quantum well structures grown on GaAs and GaP substrates using the chemical sensitive 002 dark field imaging in Transmission Electron Microscopy (TEM). The composition retrieved by the dark field intensity measurements and the...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | |
---|---|
مؤلفون آخرون: | |
التنسيق: | Dissertation |
اللغة: | الإنجليزية |
منشور في: |
Philipps-Universität Marburg
2008
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | PDF النص الكامل |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
No citations were found for this record.