Investigation of light-induced defects in hydrogenated amorphous silicon by low temperature annealing and pulsed degradation

Shranjeno v:
Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor: Heck, Stephan
Format: Dissertation
Jezik:angleščina
Izdano: Philipps-Universität Marburg 2002
Teme:
Online dostop:PDF-Volltext
Oznake: Označite
Brez oznak, prvi označite!