Investigation of light-induced defects in hydrogenated amorphous silicon by low temperature annealing and pulsed degradation

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Heck, Stephan
Format: Dissertation
Język:angielski
Wydane: Philipps-Universität Marburg 2002
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:PDF pełnotekstowe
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!