Investigation of light-induced defects in hydrogenated amorphous silicon by low temperature annealing and pulsed degradation

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Heck, Stephan
Formaat: Dissertation
Taal:Engels
Gepubliceerd in: Philipps-Universität Marburg 2002
Onderwerpen:
Online toegang:PDF Full text
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!