Investigation of light-induced defects in hydrogenated amorphous silicon by low temperature annealing and pulsed degradation

Tallennettuna:
Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Heck, Stephan
Aineistotyyppi: Dissertation
Kieli:englanti
Julkaistu: Philipps-Universität Marburg 2002
Aiheet:
Linkit:PDF-kokoteksti
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!