Investigation of light-induced defects in hydrogenated amorphous silicon by low temperature annealing and pulsed degradation

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Heck, Stephan
Formatua: Dissertation
Hizkuntza:ingelesa
Argitaratua: Philipps-Universität Marburg 2002
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:PDF testu osoa
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!