Investigation of light-induced defects in hydrogenated amorphous silicon by low temperature annealing and pulsed degradation

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Heck, Stephan
التنسيق: Dissertation
اللغة:الإنجليزية
منشور في: Philipps-Universität Marburg 2002
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:PDF النص الكامل
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!