In-situ Transmission Electron Microscopy of Crystal Growth under MOVPE Conditions

In-situ Transmission Electron Microscopy of Crystal Growth under MOVPE Conditions

The presented work introduces in-situ (scanning) transmission electron microscopy ((S)TEM) using a closed gas cell and heating TEM holder as a new experimental approach to investigate crystal growth on an atomic scale under metal-organic vapor phase epitaxy (MOVPE) comparable conditions. This bridge...

Ամբողջական նկարագրություն

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Widemann, Maximilian
Այլ հեղինակներ: Volz, Kerstin (Prof. Dr.) (Ատենախոսության խորհրդական)
Ձևաչափ: Dissertation
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: Philipps-Universität Marburg 2023
Խորագրեր:
Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM)
In-situ
scanning electron microscopy (SEM),
Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)
Physik
in-situ
transmission electron microscopy (TEM)
scanning transmission electron microscopy (STEM)
Rasterelektronenmikroskopie (SEM),
Physics
Առցանց հասանելիություն:PDF ամբողջական տեքստ
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
No citations were found for this record.

Նմանատիպ նյութեր