Analysis of Strain Relaxation, Ion Beam Damage and Instrument Imperfections for Quantitative STEM Characterizations

Analysis of Strain Relaxation, Ion Beam Damage and Instrument Imperfections for Quantitative STEM Characterizations

It is illustrated that the preparation of thin specimens from bulk materials can have significant influence on the interpretability of (S)TEM data. The results of the presented measurements show that and the elastic strain relaxation in low dimensional structures alters the overall strain state of t...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Belz, Jürgen
Другие авторы: Volz, Kerstin ( Prof. Dr.) (Научный руководитель)
Формат: Dissertation
Язык:английский
Опубликовано: Philipps-Universität Marburg 2019
Предметы:
Methode
Tetragonal Distortion
Tetragonale Verspannung
Imperfektionen
Verspannung
Physik
Aberrationen
Strain Relaxation
Ionenstrahlschaden
Ion Beam Damage
Imperfections
Aberrations
Raster-Transmissions-Elektronenmikroskop
Verspannungsrelaxation
Strain
Durchstrahlungselektronenmikroskop
Elektronenmikroskop
Physics
Online-ссылка:PDF-полный текст
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!

Internet

PDF-полный текст

Подробно о фондах из
Шифр: urn:nbn:de:hebis:04-z2020-04870
Дата публикации: 2020-10-14
Datum der Annahme: 2019-10-14
Downloads: 100 (2024), 131 (2023), 82 (2022), 43 (2021), 8 (2020)
Lizenz: https://rightsstatements.org/vocab/InC-NC/1.0/
Доступ через URL: https://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2020/0487
https://doi.org/10.17192/z2020.0487

Схожие документы