Methods and challenges in STEM composition determination of III/V semiconductors via complementary multislice simulations

Die erfolgreiche und kontinuierliche Verbesserung moderner Halbleiterbauelemente hängt wesentlich von der Fähigkeit ab, Materialeigenschaften so genau wie möglich beobachten und beschreiben zu können und dieses Verständnis als Grundlage für neue Entwicklungen nutzen zu können. Komplexe Halbleiterba...

Deskribapen osoa

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Duschek, Lennart
Beste egile batzuk: Volz, Kerstin (Prof. Dr.) (Tesi aholkularia)
Formatua: Dissertation
Hizkuntza:German
Argitaratua: Philipps-Universität Marburg 2019
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:PDF testu osoa
Etiketak: Etiketa erantsi
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