Methods and challenges in STEM composition determination of III/V semiconductors via complementary multislice simulations

Die erfolgreiche und kontinuierliche Verbesserung moderner Halbleiterbauelemente hängt wesentlich von der Fähigkeit ab, Materialeigenschaften so genau wie möglich beobachten und beschreiben zu können und dieses Verständnis als Grundlage für neue Entwicklungen nutzen zu können. Komplexe Halbleiterba...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Duschek, Lennart
Другие авторы: Volz, Kerstin (Prof. Dr.) (Научный руководитель)
Формат: Dissertation
Язык:German
Опубликовано: Philipps-Universität Marburg 2019
Предметы:
Online-ссылка:PDF-полный текст
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!