Kükelhan, P. (2019). Quantitative Scanning Transmission Electron Microscopy for III-V Semiconductor Heterostructures Utilizing Multi-Slice Image Simulations. Philipps-Universität Marburg. https://doi.org/10.17192/z2019.0483
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Kükelhan, Pirmin. Quantitative Scanning Transmission Electron Microscopy for III-V Semiconductor Heterostructures Utilizing Multi-Slice Image Simulations. Philipps-Universität Marburg, 2019. https://doi.org/10.17192/z2019.0483.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Kükelhan, Pirmin. Quantitative Scanning Transmission Electron Microscopy for III-V Semiconductor Heterostructures Utilizing Multi-Slice Image Simulations. Philipps-Universität Marburg, 2019. https://doi.org/10.17192/z2019.0483.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.