Գրանցեք մեջբերումները

APA (7th ed.) մեջբերում

Kükelhan, P. (2019). Quantitative Scanning Transmission Electron Microscopy for III-V Semiconductor Heterostructures Utilizing Multi-Slice Image Simulations. Philipps-Universität Marburg. https://doi.org/10.17192/z2019.0483

Չիկագոյի ոճի (17րդ խմբ.) մեջբերում

Kükelhan, Pirmin. Quantitative Scanning Transmission Electron Microscopy for III-V Semiconductor Heterostructures Utilizing Multi-Slice Image Simulations. Philipps-Universität Marburg, 2019. https://doi.org/10.17192/z2019.0483.

MLA (9րդ խմբ.) Մեջբերում

Զգուշացում. այս մեջբերումները միշտ չէ, որ կարող են 100% ճշգրիտ լինել.