Kükelhan, P. (2019). Quantitative Scanning Transmission Electron Microscopy for III-V Semiconductor Heterostructures Utilizing Multi-Slice Image Simulations. Philipps-Universität Marburg. https://doi.org/10.17192/z2019.0483
শিকাগো স্টাইল (17 তম সংস্করণ) উদ্ধৃতিKükelhan, Pirmin. Quantitative Scanning Transmission Electron Microscopy for III-V Semiconductor Heterostructures Utilizing Multi-Slice Image Simulations. Philipps-Universität Marburg, 2019. https://doi.org/10.17192/z2019.0483.
M.L.A (9 ম সংস্করণ) উদ্ধৃতিKükelhan, Pirmin. Quantitative Scanning Transmission Electron Microscopy for III-V Semiconductor Heterostructures Utilizing Multi-Slice Image Simulations. Philipps-Universität Marburg, 2019. https://doi.org/10.17192/z2019.0483.
সতর্কবাণী: সাইটেশন সবসময় 100% নির্ভুল হতে পারে না.