توثيق جمعية علم النفس الأمريكية APA (الطبعة السابعة)

Kükelhan, P. (2019). Quantitative Scanning Transmission Electron Microscopy for III-V Semiconductor Heterostructures Utilizing Multi-Slice Image Simulations. Philipps-Universität Marburg. https://doi.org/10.17192/z2019.0483

توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)

Kükelhan, Pirmin. Quantitative Scanning Transmission Electron Microscopy for III-V Semiconductor Heterostructures Utilizing Multi-Slice Image Simulations. Philipps-Universität Marburg, 2019. https://doi.org/10.17192/z2019.0483.

توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)

Kükelhan, Pirmin. Quantitative Scanning Transmission Electron Microscopy for III-V Semiconductor Heterostructures Utilizing Multi-Slice Image Simulations. Philipps-Universität Marburg, 2019. https://doi.org/10.17192/z2019.0483.

تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.