Han, H. (2017). Quantitative Evaluation of the Interfaces in III/V Semiconductors with Scanning Transmission Electron Microscopy. Philipps-Universität Marburg. https://doi.org/10.17192/z2017.0776
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Han, Han. Quantitative Evaluation of the Interfaces in III/V Semiconductors with Scanning Transmission Electron Microscopy. Philipps-Universität Marburg, 2017. https://doi.org/10.17192/z2017.0776.
Стиль цитування MLA (9-ме видання)Han, Han. Quantitative Evaluation of the Interfaces in III/V Semiconductors with Scanning Transmission Electron Microscopy. Philipps-Universität Marburg, 2017. https://doi.org/10.17192/z2017.0776.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.