Multi-mode atomic force microscope as a versatile tool for bionanotechnology

The kernel of this dissertation is multi-mode atomic force microscopy (AFM) which is a useful and powerful tool for characterizing and analyzing samples of nano- or micro size. Various modes can satisfy specified requirements according to different samples, i.e., topography, surface electrostatic...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Автор: Yang, Fang
Інші автори: Hampp, Norbert (Prof. Dr.) (Керівник дипломної роботи)
Формат: Dissertation
Мова:англійська
Опубліковано: Philipps-Universität Marburg 2017
Предмети:
Онлайн доступ:PDF-повний текст
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!