Multi-mode atomic force microscope as a versatile tool for bionanotechnology

The kernel of this dissertation is multi-mode atomic force microscopy (AFM) which is a useful and powerful tool for characterizing and analyzing samples of nano- or micro size. Various modes can satisfy specified requirements according to different samples, i.e., topography, surface electrostatic...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Yang, Fang
Kolejni autorzy: Hampp, Norbert (Prof. Dr.) (Promotor doktoranta)
Format: Dissertation
Język:angielski
Wydane: Philipps-Universität Marburg 2017
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:PDF pełnotekstowe
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!