Multi-mode atomic force microscope as a versatile tool for bionanotechnology

The kernel of this dissertation is multi-mode atomic force microscopy (AFM) which is a useful and powerful tool for characterizing and analyzing samples of nano- or micro size. Various modes can satisfy specified requirements according to different samples, i.e., topography, surface electrostatic...

Ամբողջական նկարագրություն

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Yang, Fang
Այլ հեղինակներ: Hampp, Norbert (Prof. Dr.) (Ատենախոսության խորհրդական)
Ձևաչափ: Dissertation
Լեզու:անգլերեն
Հրապարակվել է: Philipps-Universität Marburg 2017
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:PDF ամբողջական տեքստ
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!