Multi-mode atomic force microscope as a versatile tool for bionanotechnology

The kernel of this dissertation is multi-mode atomic force microscopy (AFM) which is a useful and powerful tool for characterizing and analyzing samples of nano- or micro size. Various modes can satisfy specified requirements according to different samples, i.e., topography, surface electrostatic...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Yang, Fang
מחברים אחרים: Hampp, Norbert (Prof. Dr.) (BetreuerIn (Doktorarbeit))
פורמט: Dissertation
שפה:אנגלית
יצא לאור: Philipps-Universität Marburg 2017
נושאים:
גישה מקוונת:PDF-Volltext
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!