Multi-mode atomic force microscope as a versatile tool for bionanotechnology

The kernel of this dissertation is multi-mode atomic force microscopy (AFM) which is a useful and powerful tool for characterizing and analyzing samples of nano- or micro size. Various modes can satisfy specified requirements according to different samples, i.e., topography, surface electrostatic...

Täydet tiedot

Tallennettuna:
Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Yang, Fang
Muut tekijät: Hampp, Norbert (Prof. Dr.) (BetreuerIn (Doktorarbeit))
Aineistotyyppi: Dissertation
Kieli:englanti
Julkaistu: Philipps-Universität Marburg 2017
Aiheet:
Linkit:PDF-kokoteksti
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!